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試用IEEE新專利分析平台InnovationQPlus

 
 
資料庫名稱:IEEE InnovationQ Plus 專利分析平台
試用期間:2016/05/25~2016/06/11
注意:1.試用期間同時1人上線,使用結束請登出
       2.請從本館電子資源入口網登入後,搜尋 資料庫 " IEEE InnovationQ Plus"
 
內容簡介:
有鑑於 IEEE 文獻在專利內容中被廣泛引用,被引用率為其他出版社之三倍,為能持續推動科技發展,IEEE與專利分析工具專家IP.com 攜手,於今年推 InnovationQ Plus 平台,結合最豐富的權威工程文獻、專利資訊與應用自然語言(natural language)處理技術專門打造的獨家搜尋分析工具,提供一站式的專利技術分析與創新研發體驗。
 
透過InnovationQ Plus平台,您可快速掌握各項技術發展現況、釐清專利佈局、尋求技術移轉合作機會,輔助教學研究及產學專案的進行。

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